Электронные лучи устройств обычно разрушают более мягкие материалы, поэтому ученые, как правило, полагаются на рентгеновские лучи, которые не могут достичь атомного уровня, чтобы отобразить их.
Но ученые из Национальной лаборатории Министерства энергетики им. Лоуренса Беркли
опубликовали в журналах
Nature Communications and
Nature Materials исследования, показывающие, как метод под названием 4D-STEM позволяет им использовать электронную микроскопию для изображения мягких материалов, не разрушая их, при этом достигая практически самого низкого уровня организации молекулы.
фото: Colin Ophus/Berkeley Lab